Для наблюдения за самыми мелкими объектами, которые невозможно рассмотреть в световой микроскоп, используют:
3) электронный микроскоп.
Электронные микроскопы являются мощным инструментом для изучения структур на наноуровне. Они используют пучок электронов для получения изображения объекта, что позволяет достичь гораздо более высокого разрешения, чем в световых микроскопах. Это связано с тем, что длина волны электронов значительно меньше, чем длина волны видимого света, что позволяет видеть мельчайшие детали структуры, такие как атомы и молекулы.
Существует два основных типа электронных микроскопов:
Просвечивающий электронный микроскоп (ПЭМ): Этот тип используется для изучения внутренней структуры образцов. Электроны проходят через тонкий срез образца, и изображение формируется на основе того, как электроны взаимодействуют с атомами образца.
Сканирующий электронный микроскоп (СЭМ): Он создает изображение поверхности образца. Электроны сканируют поверхность, и изображение формируется посредством анализа отклоненных или вторичных электронов.
Ручные и штативные лупы (1 и 2) увеличивают изображение, но их увеличение и разрешение ограничены и не позволяют рассматривать объекты на уровне отдельных клеток или молекул. Бинокуляр (4) обычно используется для стереоскопического наблюдения за относительно крупными объектами и не подходит для изучения очень маленьких структур.